Abstract unavailable
Why is the Winner the Best?
M. Eisenmann, A. Reinke, V. Weru, M. Tizabi, F. Isensee, T. Adler, S. Ali, V. Andrearczyk, M. Aubreville, U. Baid, S. Bakas, N. Balu, S. Bano, J. Bernal, S. Bodenstedt, A. Casella, V. Cheplygina, M. Daum, M. De Bruijne, A. Depeursinge, R. Dorent, J. Egger, D. Ellis, S. Engelhardt, M. Ganz, N. Ghatwary, G. Girard, P. Godau, A. Gupta, L. Hansen, K. Harada, M. Heinrich, N. Heller, A. Hering, A. Huaulmé, P. Jannin, A. Kavur, O. Kodym, M. Kozubek, J. Li, H. Li, J. Ma, C. Martín-Isla, B. Menze, A. Noble, V. Oreiller, N. Padoy, S. Pati, K. Payette, T. Rädsch, J. Rafael-Patiño, V. Bawa, S. Speidel, C. Sudre, K. Van Wijnen, M. Wagner, D. Wei, A. Yamlahi, M. Yap, C. Yuan, M. Zenk, A. Zia, D. Zimmerer, D. Aydogan, B. Bhattarai, L. Bloch, R. Brüngel, J. Cho, C. Choi, Q. Dou, I. Ezhov, C. Friedrich, C. Fuller, R. Gaire, A. Galdran, Á. Faura, M. Grammatikopoulou, S. Hong, M. Jahanifar, I. Jang, A. Kadkhodamohammadi, I. Kang, F. Kofler, S. Kondo, H. Kuijf, M. Li, M. Luu, T. Martinčič, P. Morais, M. Naser, B. Oliveira, D. Owen, S. Pang, J. Park, S. Park, S. Plotka, E. Puybareau, N. Rajpoot, K. Ryu, N. Saeed, A. Shephard, P. Shi, D. Stepec, R. Subedi, G. Tochon, H. Torres, H. Urien, J. Vilaça, K. Wahid, H. Wang, J. Wang, L. Wang, X. Wang, B. Wiestler, M. Wodzinski, F. Xia, J. Xie, Z. Xiong, S. Yang, Y. Yang, Z. Zhao, K. Maier-Hein, P. Jäger, A. Kopp-Schneider and L. Maier-Hein
2023 IEEE/CVF Conference on Computer Vision and Pattern Recognition (CVPR) 2023.